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cyberTECHNOLOGIES stellt neues 3D Profilometer vor

cyberTECHNOLOGIES, als führender Anbieter hochauflösender, berührungsloser 3D Messsysteme für die Wissenschaft und Industrie, erweiterte 2009 das Produktportfolio um ein neues, kompaktes Profilometer, das CT 100.

Die Hauptkomponenten des Systems sind ein hochauflösender Laser- oder Weißlichtsensor und ein x-, y-Verfahrtisch.
Die Verfahreinheit verwendet einen speziell entwickelten Linearantrieb und bewegt das Messobjekt unter dem Sensor. Der Verfahrweg beträgt 100 mm und kann auf der gesamten Länge gescannt werden. Vor allem die chromatischen Weißlichtsensoren zeichnen sich durch ihre Genauigkeit bei hoher Messgeschwindigkeit aus.
Je nach Anwendung und Messaufgabe gibt es unterschiedliche Sensoren mit unterschiedlichen Messprinzipien, Auflösungen und Messbereichen. Die chromatischen Sensoren beispielsweise sind von 3 nm bis 0,8 µm Auflösung erhältlich und bieten Messbereiche von 100 µm bis 25 mm.
Die von cyberTECHNOLOGIES entwickelte Software kombiniert Steuerung, Datenaufnahme und Analyse in einem einfach zu bedienendem Benutzerinterface. Alle bekannten 2D und 3D Analysefunktionen sowie eine Rauheitsanalyse nach DIN ISO gehören zum Standard.
Typische Anwendungsgebiete sind Messungen von Schichtdicke und Volumen auf unterschiedlichsten Substraten, Kleberpunkten oder sonstigen gedruckten oder dispensten Eigenschaften. Auch Koplanaritäts- und Ebenheitsmessungen zählen zu den Hauptanwendungen für ein CT 100 Messsystem.

Um mehr über das neue Schichtdickenmessgerät CT 100 zu erfahren besuchen Sie cyberTECHNOLOGIES auf der PRINTED ELECTRONICS & PHOTOVOLTAICS 2010 in Dresden, Stand 51.