IMAPS & IWLPC 2016
Im Oktober stellt cyberTECHNOLOGIES die neuesten Lösungen zur Oberflächenmessung für die Mirkoeletronik- und Halbleiter-Industrie auf der IMAPS & IWLPC 2016 vor.
IMAPS 2016 – Pasadena, Kalifornien, USA
Vom 11. bis 13 Oktober 2016 präsentieren wir auf der IMAPS 2016 die neuesten Oberflächenmesslösungen für die Mikroelektronik.
Besuchen Sie uns auf unserem Stand #635. Vor Ort besteht die Möglichkeit mitgebrachte Proben kostenlos messen zu lassen.
Die International Microelectronics and Packaging Society (IMAPS) steht für den Dialog unter Fachkollegen aus der Nähe. Die jährlich stattfindenden Konferenzen und Seminaren ermöglicht inter- und transdisziplinären Fachgruppen detaillierter Wissenszuwachs in spezifischen Themen- und Entwicklungskomplexen.
Mehr Informationen zur IMAPS 2016: www.imaps.org/imaps2016
International Wafer-Level Packaging Conference 2016 – San Jose, Kalifornien, USA
Die Halbleiterindustrie steht vom 18. bis zum 20. Oktober im Fokus der IWLPC 2016 in San Jose. Vor Ort demonstrieren wir unsere konfokale und interferometrische Messtechnik anhand des CT 100. Wir freuen uns Sie auf unserem Stand #57 begrüßen zu dürfen.
Das CT 100 ist ein berührungslos arbeitendes, kompaktes Oberflächenmessgerät. Speziell die nach dem chromatischen Prinzip arbeitenden Weißlichtsensoren verbinden hohe Messgenauigkeit mit hoher Abtastgeschwindigkeit.
Mehr Informationen zur IWLPC 2016: www.iwlpc.com